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目的:研究精神分裂症两个不同亚型(缺陷型与非缺陷型)患者在脑电图(EEG)方面的差异。方法:采用国产ND—16C型16道自动分析EEG仪对69例精神分裂症患者进行标准EEG描记,并对结果进行分析。结果:缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,二者差异有统计学意义(P【0.01)。结论:提示缺陷型与非缺陷型精神分裂症患者相比,缺陷型患者有更明显的病理性生物学基础。