论文部分内容阅读
传统的智能卡测试平台需要人工干预，严重影响测试效率，因此难以满足智能卡行业的测试需求。针对这个问题，在此提出一种新的解决方案。该方案以PC／SC为编程接口，实现了测试平台与智能卡的通信，利用扩展的TCL解释器定义了一种新的测试语言ATP，它包含TCL内置命令和应用程序的相关命令。测试人员可以利用ATP语言编写测试用例，在此平台上完成对智能卡的自动化测试。该方案已经得到实际验证。