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利用扫描俄歇微探针（ＳＡＭ）和原子力显微镜（ＡＦＭ）研究了ＳｉＯ２衬底上在外加直流电场作用下沉积的Ａｕ薄膜及Ａｕ－Ａｇ复层薄膜的表面形貌、结构变化及电迁移扩散行为。结果表明：①在衬底表面施加水平方向电场辅助沉积制备的Ａｕ薄膜其表面显示出平整的椭球形晶粒，并沿外电场方向呈织构取向。与未加电场的热蒸发沉积膜相比，具有较为均匀、有序的表面微观结构。②ＳｉＯ２表面Ａｕ－Ａｇ复层薄膜在直流电场作用下，Ａｕ，