力调制技术在区分聚合物薄膜晶畴、非晶畴中的应用

来源 :电子显微学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lizhiguo518
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聚合物材料多为半晶态,晶畴和非晶畴共存.采用扫描探针显微术的力调制技术, 成功区分出聚合物薄膜P(VDF-TrFE)中存在的弹性性质相差悬殊的两类畴:高弹性畴和低弹性畴,并推测高弹性畴对应于P(VDF-TrFE)的晶畴.由此可见,力调制技术在有机材料微观结构区分中具有重要的应用价值.
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