以抗涝性不同的芝麻（Sesamum indicum L）品种2541和鄂芝2号为材料,在4片真叶期进行涝害处理48h,探讨了涝害与芝麻生长发育及光合参数、叶绿素荧光参数等指标之间的关系。结果表明:（1）涝害导致根系生长缓慢,侧根数减少,不耐涝品种鄂芝2号表现尤其明显。（2）涝害处理后2品种最大荧光（Fm）、开放PSⅡ中心的量子效率（Fv/Fm）、PSⅡ潜在活性（Fv/F₀）和叶绿素含量（Chl）均下降,初始荧光（F₀）则升高。品种2541除Fv/F₀与对照相比达显著水平外,其他荧光参数均与对照未达显著水平。（3）叶片净光合速率（Pn）、蒸腾速率（Tr）、气孔导度（Gs）均下降,水分利用效率（WUE）提高,且耐涝品种2541变化幅度较小,到撤水后15d恢复到与对照相当。可见,品种的抗性与光合参数、叶绿素荧光参数以及侧根数量密切相关。