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模拟电路K故障诊断有两种方法：超定偏差方程相窖性判断法和双线性求值判断法。本文从拓朴上论述了使用这两种方法时电路的全局可测性和局部可测性。提出了简明的称为公树条件的评判方法。公树条件易于用来从可测性角度对两种诊断方法进行比较。在电路可测性设计时也方便使用。最后以一个例子说明双线性求值判断法的可测性要好得多。