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目的 探讨大鼠脑二次损伤(SBI)c-fos、bcl-2、bcl-xL基因表达和细胞凋亡关系.方法 40只大鼠随机分为正常对照组10只、脑缺血组10只、颅脑损伤组10只和SBI组10只,以免疫组织化学方法,检测脑神经细胞中c-foe、bcl-2、bcl-xL的表达水平;以原位细胞凋亡(TUNEL)法检测神经细胞凋亡水平.结果 颅脑损伤组、SBI组皮层区c-fos基因表达(23.6±9.4)、(37.1±5.5)阳性细胞数/个/H均明显高于脑缺血组(5.6±1.4)阳性细胞数/个/H(t=3.458,t=3.648,均P