论文部分内容阅读
研究了不同壳层厚度（0～5．5ML）的CdSe／CdS核壳量子点的一次和高次拉曼散射，具体分析了CdSe和CdS的表面模随着壳层厚度的变化情况。结果表明，随着壳层厚度的增加，CdSe表面模（S01）从198cm^-1频移到185cm^-1，CdS的表面模（SO2）从275cm^-1频移到267cm^-1，并且SO1和SO2试验结果与由介电连续模型得到的理论值很接近。此外，根据CdSe表面模的频移，对随着CdS壳层厚度的增加而引起的核层（CdSe）的介电常数随环境的变化做出了修正。