【摘 要】
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采用磁光旋转测量装置与1/4波片组合而成的实验装置测量了(BiTm)3(FeGa)5O(12)单晶薄膜样品的磁圆二向色性(椭圆率tanhθ″),以及θ″与磁场强度H、样品厚度2h的关系。测量密度达0.01°。实验证明了磁光旋转的虚部θ″与实部θ′一样,是与磁化强度M相联系的,且随样品厚度线性增加。
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采用磁光旋转测量装置与1/4波片组合而成的实验装置测量了(BiTm)3(FeGa)5O(12)单晶薄膜样品的磁圆二向色性(椭圆率tanhθ″),以及θ″与磁场强度H、样品厚度2h的关系。测量密度达0.01°。实验证明了磁光旋转的虚部θ″与实部θ′一样,是与磁化强度M相联系的,且随样品厚度线性增加。
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