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目前通用的各种 X射线荧光分析方法是以比较试样和标样 (一个或几个 )的分析线的测量强度为基础，把测量标样所获得的数据拟合成一条光滑曲线，一般最好与最小二乘法曲线相吻合。如果基体效应不严重，则可用简单的校准法 (也就是分析线强度随浓度的变化 )进行准确分析。如果基体效应严重，但分析成分的浓度范围很小，且标样与试样很相似，也可采用上述方法。而这类自动化分析过程所采用的分析软件，大多有以下 3个步骤 : 1)输入每个标样的化学分析结果，同时测量其对应组分的谱线强度。 2)利用上步数据，对所要测定的各个元素