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为了解决深亚微米、SOC和低功耗电路中的测试问题,低功耗测试序列RSIC序列的生成方法得以研究和发展.文章提出关于RSIC序列生成电路的建模和分析理论.其研究特色是抽象出此类复杂电路固有特性的通用模型,建立一套简洁、准确的数学描述和分析方法,论证了此类电路的一系列特性,并通过片外测试的模拟结果来验证RSIC序列的低功耗.该研究结果为RSIC序列研究和应用提供了强有力的理论基础和分析方法.