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用PAT、CEMS、SEM和TEM分析观测了HIRFL提供的能量为几十MeV到几百MeV的碳离子在Ni、马氏体时效不锈钢、HT—9铁素体钢和316L不锈钢中引起的辐照效应,包括辐照引起的偏析、脱溶、相变和肿胀,以及辐照肿胀随辐照温度的变化关系,研究了510MeV的碳离子在高纯Ni中的损伤分布,并给出了95MeV的Ar离子模拟宇宙射线在宇宙飞行器中引起数字半导体器件“软故障”的最近结果。