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在LED产业广泛取代传统光源的今天,LED的结温严重影响发光波长、发光效率、正向电压、荧光粉效率以及使用寿命,结温的精确测试对LED向超大功率LED发展有重要意义。本文研究和分析了用LED的发光强度来表征LED的相对辐射强度,相对辐射强度和结温之间存在的线性关系,并据此设计并实现了类似于正向电压法,基于相对辐射强度的非接触式测试系统,使用NI USB6210数据采集卡在虚拟仪器平台上完成了图像采集、图像处理、线性拟合、界面设计的任务,得到相对辐射强度值与结温之间的关系,根据线性拟合关系式可得到被测器件的结温。本系统具有界面简洁、算法可靠、结果稳定的优点,使用该系统分别对单颗LED和LED阵列的实验数据进行拟合发现结温和相对辐射强度之间具有较好的线性关系,从而验证了非接触LED结温测试系统的可靠性。