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介绍了一种由传感器、A/D变换器、超大容量闪存、Msp430单片机和电平转换电路组成的微型超大容量存储测试系统设计方法.传感器信号通过Msp430单片机控制ADC芯片MAX152进行模拟一数字转换并放人总线中,同时将该数据分时存人到闪存中,最后通过计算机和Visual Basic语言编写的软件将闪存中的数据读取到计算机中,同时将闪存中的数据擦除,以便进行下一次存储等.