论文部分内容阅读
采用提拉法生长Yb3+掺杂浓度为10at%的Yb:Lu3Al5O12(Yb:LuAG)晶体。对晶体的结晶质量、晶胞参数、分凝系数等进行了表征。采用化学腐蚀的方法,利用光学显微镜和扫描电镜相结合研究了晶体中的缺陷。结果表明晶体具有较好的结晶质量,Yb3+的掺入不会改变LuAG的晶体结构。观察到Yb:LuAG晶体(111)面上呈三角锥形的位错蚀坑和由小面引起的晶体应力双折射现象,并提出了减少缺陷,提高晶体质量的方法。