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阐述了影响 CCD探测灵敏度的暗电流及暗电流噪声的产生机理 ,分析了其对 CCD性能的影响。在此基础上 ,提出了一种新型的利用半导体致冷器件 TEC对 CCD进行致冷的方案 ,并对设计过程中要注意的问题进行了具体分析。最后运用实例说明了通过此方法 ,大大地降低了CCD的暗电流 ,提高了其探测灵敏度。文章还对这种新颖的热电致冷方法和传统的液氮致冷方法进行了分析、比较 ,指出了 CCD热电致冷的优势及发展前景