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报告了利用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和正电子湮没等实验对YBa2Cu3O7-δ(Y-123)体系正交畸变度和正电子寿命谱随烧结时间变化的研究结果.发现在950℃温度的烧结条件下,在12-72h这一相当宽的烧结时间范围内,正电子实验具有足够的稳定性和可靠性,实验表明足够的烧结时间在Y-123多晶材料制备方面是必须的.