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针对传统的数字电路板测试系统存在体积大、性价比不高和通用性不强等问题，提出了基于改进测试策略的数字电路板测试系统。该测试系统是在传统测试系统的基础上融合边界扫描技术改进了测试策略，既保证了功能测试又增强了系统的结构性测试。测试结果表明，改进的测试系统具有体积小、性价比高、通用性强和故障覆盖率高等优点，对测试系统的发展有着重要的理论意义和实用价值。