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应用同步辐射X射线白光形貌术，对Nd：GGG晶体中的缺陷进行了研究，观察到晶体中的主要缺陷是生长条纹和位错，对生长条纹产生的机理和位错的类型进行了分析讨论，生长条纹是由于温度波动引起生长率的起伏产生的，确定晶体中的位错有刃型位错、螺旋位错和混合位错。根据生长条纹和位错的生成机制，提出了一些改进生长工艺的措施和方法，为生长质量更高的晶体提供了参考。