一种高频高压双极性功率器件的研究

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针对常规双极功率晶体管(BPT)中存在的高频、高电流增益和高CE击穿电压间的固有矛盾,本文基于Kondo提出的GAT结构,利用刻槽淀积P+多晶硅基区的新工艺,研制了一种高频高压双极性功率器件,并对该器件的基区电场屏蔽效应进行了解析研究,实验获得了预期的效果。 Aiming at the inherent contradiction between high frequency, high current gain and high CE breakdown voltage in conventional bipolar power transistors (BPTs), based on the GAT structure proposed by Kondo, a new process of depositing P + A bipolar power device with high frequency and high voltage was developed. The shielding effect of the electric field at the base of the device was analyzed and the experimental results obtained the expected results.
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