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多元探测器芯片测试系统用于多元红外探测器晶片、芯片测试筛选。该设备主要检测晶片、芯片的背景电流、漏电流、动态阻抗和C-V特性等参数，使之满足探测器要求。该设备是各种焦平面阵列红外探测器研制生产的必需设备。论文设计了一套基于Agilent VEE开发环境的多元探测器芯片测试系统。实验表明，设备具有较好的测量精度，达到了预期的设计目标。