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基于电磁场的基本原理及其坐标变换,介绍了仪表着陆系(Instrument Landing system,简称ILs)场地影响的一种分析方法。结合马克-Ⅱ型ILS,计算了场地影响时ILS天线阵的辐射场型,并与理想条件下,天线阵的辐射场型进行了比较与分析。该分析方法对于ILS运行检证及飞行检验具有重要意义。