ICP-AES直接测定钨产品中杂质元素

来源 :光谱学与光谱分析 | 被引量 : 0次 | 上传用户:persistence2005
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该文通过实验详细研究了钨产品中钨基体对杂质元素突出谱线的光谱干扰情况及基体效应,选择了基本上不受钨基体干扰的待测元素的分析谱线并利用单纯型加速法优化ICP操作条件.建立了一种快速分析钨产品杂质元素的ICP-AES法.用本法测定了三氧化钨标准样(BYG1201-2,3,4号样),结果表明所建立的方法灵敏、快速和可靠“,”A direct determination of Al,As,Ca,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,Mg,Mn,Mo,Ni,Sn,Ti and V in tungsten products with ICP AES is presented.The influence of tungsten matrix is studied.Based on the selected optimum operating parameters,the feasibility of the proposed method is evaluated by analyzing three WO 3 National References.The results are satisfactory.
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