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故障分辨率是复杂电子系统的一个重要测试性指标，传统的计算故障分辨率的公式只适用于系统中所有元件（或模块）都服从指数分布的情况。事实上，正态分布、威布尔分布和指数分布都是常用的失效分布。鉴于此，本文提出了一个适用于各种失效分布的故障分辨率计算公式；然后在充分利用各模块历史维护数据和分布函数的基础上提出了一种优化替代次序的方法。理论分析和仿真结果证明本文的方法有如下现实价值：节省设计和生产成本；减少系统维护预算；降低系统维修时间和费用。