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采用升华法制备出ZnO晶体，并对其XRD图谱和拉曼图谱进行了研究分析。测得的XRD图谱显示在2角为34．5602°处的（002）面的谱峰尖锐，半高宽为0．1771°，说明ZnO晶体沿C轴择优取向，晶体质量良好；拉曼图谱的特征谱出现在437处，表明晶体的定向生长，表征了ZnO晶体的特征。对晶体的测试和分析表明采用升华法，并且合理地控制参数。能够生长出高质量的ZnO晶体。