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该文列举装有光纤探头二极管阵列NIRS光谱仪非破坏性在线监测面团调制过程、测定面粉品质参数、面粉中微生物残留及确定不同品质面粉具体使用范围应用概况。采用NIRS光谱数据可获得整个面团调制过程信息，包括面粉颗粒最初糊化过程，面团最佳形成时期；NIRS测得光谱数据与面团流变特性、面包最终品质参数之间有很好关联性：同时通过NIRS光谱还可研究测定面粉及各组分对面团特性影响等。这些均表明NIRS光谱用于在线控制面团品质。测定面粉中微生物残留及确定面粉具体使用范围方面有很大应用价值。