用电子能谱法研究Pb_(1-x)Sn_xTe器件表面

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一、引言化合物半导体红外探测器的表面性质往往限制了器件的性能。化合物半导体的表面钝化是一个重要问题,这至少部份是由于表面化学增加了复杂性,在多组份材料中这是可能出现的。Pb_(1-x)Sn_xTe属于经常出现明 I. INTRODUCTION The surface properties of compound semiconductor infrared detectors often limit the performance of the device. Surface passivation of compound semiconductors is an important issue, at least in part due to the added complexity of surface chemistry, which may occur in multi-component materials. Pb_ (1-x) Sn_xTe belongs to often appear bright
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