论文部分内容阅读
一年一度的安捷伦科技公司数字测量论坛(ADMF)近日在首尔拉开帷幕,此次数字测量领域盛会的主题是“数字设计测量的未来发展”,主要讨论议题包括DigiRF、MIPI一致性测试、超高速USB3.0、FPGA设计测试和调试,以及低速串行总线调试。今年的AMDF于6月19日至7月17日先后在亚太区的6个国家和地区举办。