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目的 研究精神分裂症两个不同亚型(缺陷型与非缺陷型)患者在脑电图(EEG)方面的差异.方法 采用国产SOLAR1814型16道数字EEG仪对109例精神分裂症患者进行标准EEG描记,对其结果进行分析,并对异常脑电图的相关因素进行分析研究.结果 缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,且异常程度重,二者有显著性差异(P<0.01).结论 提示缺陷型与非缺陷型精神分裂症患者相比,缺陷型患者有更明显的病理性生物学基础.