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对X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素的实验条件，背景和光谱重叠干扰及校正进行研究。通过以纯铜标准样品绘制校准曲线，采用专用空白试样测量背景强度，多项式（多点）拟合计算峰底背景，专用的标准样品计算与分析线的重叠干扰量并加以校正，理论α系数法或基本参数法校正样品中元素间的吸收一增强效应，选择高反射率的人工晶体PX-10测定部分重金属痕量元素，成功地用X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素。样品的分析结果与推荐值或火花源原子发射光谱的测定值符合，回收率在95％～102％范围，各元素的相对标准偏差（RSD）均