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镀通孔制造过程中的失效机理与物理模型
镀通孔制造过程中的失效机理与物理模型
来源 :电子元件与材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户:intercsw
【摘 要】
:
镀通孔的可靠性与制造过程工艺参数有非常密切的关系.从钻孔、化学镀铜、电镀三个主要工艺入手,对目前制造过程镀通孔失效的机理与物理模型的研究现状进行总结。重点介绍了钻孔
【作 者】
:
陈颖
谢劲松
孔令文
【机 构】
:
北京航空航天大学可靠性工程研究所,深圳深南电路有限公司技术中心
【出 处】
:
电子元件与材料
【发表日期】
:
2007年6期
【关键词】
:
电子技术
镀通孔
综述
失效机理
分层
空洞
不均匀性
electron technology plated through hole review failu
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镀通孔的可靠性与制造过程工艺参数有非常密切的关系.从钻孔、化学镀铜、电镀三个主要工艺入手,对目前制造过程镀通孔失效的机理与物理模型的研究现状进行总结。重点介绍了钻孔中分层、化学镀铜中的气泡缺陷,电镀中的镀层不均匀等缺陷产生的机理。并提出了需进一步研究的主要问题.
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