应用材料推出Extensa PVD系统为存储芯片的制造提供关键的铜阻挡层技术

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  近日,应用材料推出Applied Endura ExtensaPVD(物理气相沉积)系统,这是业界唯一在亚55nm存储芯片铜互联的关键阻挡层薄膜沉积工艺中具有量产价值的系统。Extensa系统独特的Ti/TiN工艺技术使扩散阻挡薄膜具有高水准的阶梯覆盖率,整块硅片上薄膜厚度的不均匀性<3%。同其他同级别竞争对手的系统相比,它具有最少的缺陷和更低的耗材成本。
  Extensa系统优秀性能来源于Ti/TiN沉积反应腔所采用的多项PVD技术创新。新型双磁体PVD(化学气相沉积)源极的侧向电磁器具有磁通量整形功能,可以提供无与伦比的阶梯覆盖率,并能将≥0.12μm的微粒控制在10个以下。拥有专利的源极技术也提高了沉积材料的使用效率,并将靶材的使用寿命延长了30%。此外,反应腔的工具套件包括拥有专利的CleanCoa技术,可以方便地进行维护工作和微粒控制。
  Extensa技术能提供Ti/TiN沉积解决方案,为存储器的两个技术转型提供支持:一个是在铜阻挡层/晶种层应用中用钛基电介质阻挡层取代钽;另一个是采用铜-铝和铜-钨扩散阻挡层来实现铜和铝层以及钨孔道的最具成本效益的整合。
  更多的应用包括存储器件的接触孔衬垫,以及逻辑芯片的金属栅极和硅化物覆盖阻挡层沉积。Endura架构独特的灵活性使其成为业内唯一能在单独系统中提供整合的铜-铝阻挡层和铝填充解决方案的系统。
  
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