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通过电子显微分析,发现在热等静压的TiAl-V-Si合金中有大量的硅化物沿层状结构的相界面析出,这些硅化物为Ti5Si3相,通常为近六角形的薄片,Ti5Si3相与层状结构基体相(α2和γ相间具有如下的固定取向关系[0001]Ti5Si3//[0001]Ti3Al,(3120)Ti5Si3//(1010)Ti3Al;[0001]Ti5Si3//[111]TiAl,(4150)Ti5Si3//(110