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SmCo合金具有极高的单轴磁晶各向异性，成为未来高密度磁记录介质的候选材料之一。本文采用磁控溅射方法，在玻璃基片上制备了Cr（100nm）／SmCo（50nm）／Cr（20nm）结构的SmCo薄膜，SmCo层中Sm含量为35％（原子分数）。利用综合物性测试系统（PPMs）和X射线衍射（XRD）对薄膜的磁性能和晶体学结构进行了测试。结果表明，通过550℃退火20min可以获得很好的硬磁性能，矫顽力日。达到了3183kA·m^-1，XRD结果表明薄膜中同时存在磁性相SmC05和非磁性相SmCo2等。