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对于集成电路设计、生产过程中的多目标、多约束统计优化问题,本文提出了“合格率足够高”的优化宗旨,并从概率论的基本原理出发,结合集成电路的特点,导出了一种合格率的近似表述方法,提出的变权重Monte Carlo法编程简便,效率高。采用这些优化策略设计的集成电路合格率优化系统取得了比较好的结果。
多目标多约束的集成电路统计优化策略
【摘 要】
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对于集成电路设计、生产过程中的多目标、多约束统计优化问题,本文提出了“合格率足够高”的优化宗旨,并从概率论的基本原理出发,结合集成电路的特点,导出了一种合格率的近似
【机 构】
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清华大学电子工程系,清华大学电子工程系北京100084,北京100084,北京100084
【出 处】
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微电子学
【发表日期】
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1992年1期
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