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一种用来分析位于热循环器中多个样品凹坑中的样品的荧光检测设备和使用该设备的方法。在一个实施例中，该设备包括可以安装到该热循环器上的一个支承结构，以及可移动地安装在该支承结构上的一个检测模件。该检测模件包括一个或多个通道，每个通道有一个激发光发生器和一个发射光检测器，它们两个都设置在检测模件内。当把支承结构安装到热循环器上、并且把检测模件安装在支承结构上时，检测模件可移动，从而使它的位置与多个凹坑中不同的凹坑处于光学连通状态。检测模件可以由支承结构移开，使得可以容易地进行替换。