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用一种物理方法解释了非理想铁电电容器的电路行为。在该方法中把分立的铁电电容假设为堆积状的介电层结构，包括铁电层和非开关介电层。通过这种方法改进了Sawyer-Tower电路并测量了其电特性。用该模型较准确地测量了由于输入信号频率变化而引起的电滞回线的畸变，并且输入信号幅度的影响与实验结果比较吻合。