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本文介绍一种简易大容量DRAM测试系统的特性及实现方法。该系统为以TP-801单板机为主机组成的双机系统。被测芯片的容量不受主处理机寻址能力的限制,而测试速度高于主机的时钟频率,从而实现了用较低速度的主处理机对芯片工作速度容限的测试。本系统可检测被测芯片的五类固定故障及部分图案敏化故障,还可测定DRAM的刷新参数。