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使用冗余行覆盖占故障总数70％的单故障，导致冗余资源的浪费．为提高冗余资源的利用率，提出一种高效的修复方案，即冗余行覆盖多故障，纠错码修复单故障．当采用码率大于1／2的纠错码修复单故障时，校验位的长度小于冗余行的长度，节约了面积开销．通过2^4×8比特静态随机存取存储器（SRAM）的自修复实验，验证了新方案的可行性．实验结果表明，与冗余行结构相比。新的修复方案可以减小面积开销，提高芯片的最大工作频率．