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介绍了用于软X光能谱测量的滤光片及X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置3W1B束线,流强40～80mA的运行条件,在100～1600eV能区对滤光片及X射线二极管(XRD)作能响曲线标定。重点对C滤片及Al阴极XRD的灵敏面作能响面均匀性研究,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。