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针对集成电路(integrate circuit,IC)在复杂环境中的电磁抗扰度漂移问题,研究了环境热应力对典型数字逻辑集成电路通用输入/输出(general purpose input output,GPIO)端口电磁抗扰度的影响.分析典型FPGA GPIO电气拓扑结构及电磁-热耦合应力对其内部金属氧化物(metal-oxide-semiconductor,MOS)敏感器件的干扰机理,基于集成电路电磁传导抗扰度模型(integrate circuit immunity model-conducted i