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指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法,对该领域的研究情况进行了评述.总结了存储器传统的故障模型,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型.详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案,讨论了在内建自测试电路中增加内建冗余分析、内建故障诊断和内建自修复等功能的可行性.