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采用复合熔剂玻璃熔片法制备样片,X射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中SiO2、Fe2O3、Al2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O、MnO和P2O5等主次成分.使用理论α系数校正基体效应,国家一级标准物质验证,方法简单快速.测量结果各元素相对标准偏差(RSD,n=12)低于10%(除含量在检出限附近的元素外),检出限低,能够符合地矿行业的要求.