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掠入射X射线技术是一种表征高分子薄膜的结晶性、厚度、界面粗糙度等物理量的新方法，本文简单介绍了这种技术中X射线反射率法和掠入射X射线衍射法的基本原理、测试和分析方法以及这些方法在高分子薄膜研究中的应用。
利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜
【摘 要】
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掠入射X射线技术是一种表征高分子薄膜的结晶性、厚度、界面粗糙度等物理量的新方法，本文简单介绍了这种技术中X射线反射率法和掠入射X射线衍射法的基本原理、测试和分析方法
【机 构】
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中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室
【出 处】
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大学化学
【发表日期】
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2009年2期
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