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目的 探讨10 Hz重复经颅磁刺激（r TMS）对精神分裂症患者双侧前额叶代谢物质的影响及r TMS安全性。方法 以符合ICD-10中精神分裂症诊断标准的55例患者为研究对象,随机分为研究组（n=27例）和病例对照组（n=28例）,分别给予4周10 Hz r TMS真刺激和假刺激治疗,两组治疗期间均联合应用利培酮片。r TMS治疗前后进行磁共振氢质子波谱（1H-MRS）检测。结果 治疗前两组间双侧前额叶NAA/Cr值、Cho/Cr值无明显差异（P〉0.05）;治疗后研究组左侧前额叶NAA/Cr值高于病例对