论文部分内容阅读
大规模集成电路通常隐含难以检测的设计错误，而在使用过程中又可能产生新的故障点。对故障效应的传播路径和范围进行准确评估，有助于确定关键模块是否受到故障的影响和定位抑制故障效应传播的关键点。然而，常规的故障效应传播分析方法往往忽略了逻辑门对故障传播的阻断效应，以及扇出重回聚区域对故障效应传播的影响。提出了一种精确的故障效应传播模型，并采用布尔逻辑函数对所提出的模型进行了形式化描述。实验结果表明：所提出的模型可对故障效应的传播范围进行更为准确地评估，并显著降低误报率。