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随着行业发展,智能卡读写设备的应用越来越广泛,应用场景越来越复杂。对于目前国内读写设备质量参差不齐的现状,为了推动读写设备质量提升,研究ISO/IEC 14443系列国际标准的技术要求,研究PCD(接近式耦合装置,即读写设备)测试方法与流程,以及PCD测试装置。PCD测试分为三部分:物理特性,射频信号包络及强度,初始化和防冲突。其中对性能影响最大的是射频信号包络及强度。本文展望了射频信号包络及强度改良的测试方向。