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对在通常实验室环境下注入到Au中的7Be发生电子俘获的半衰期进行测量。共测量4.8个半衰期,测得T（1/2）=（53.245±0.003）d。此测量结果可作为研究7Be衰变率随环境不同而发生变化时的参照值。
^7Be在Au中衰变率的精确测量
【摘 要】
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对在通常实验室环境下注入到Au中的7Be发生电子俘获的半衰期进行测量。共测量4.8个半衰期,测得T（1/2）=（53.245±0.003）d。此测量结果可作为研究7Be衰变率随环境不同而发生变
【机 构】
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中国原子能科学研究院核物理研究所
【出 处】
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原子能科学技术
【发表日期】
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2007年4期
【基金项目】
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中核预研基金资助项目（13Y205030501）,国家自然科学基金资助项目（10305020）
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