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论文针对武器装备中电子元器件在实际工作环境中性能参数随温度变化较大的特点，以及一些元器件在筛选过程中必须进行的高低温测试问题。以常见的电容器、电阻器和集成运算放大器为研究对象，通过研究这两类器件在不同温度条件下特性参数的变化规律，并通过实验数据的处理和分析，为提高电子元器件的可靠性水平提供了分析手段，为电子元器件可靠性高低温测试必要性提供佐证。