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用扫描电子显微分析手段研究电气石微粒的运动行为、影响因素,为评价电气石自发电极性提供新方法.结果表明,在SEM下用二次电子(SE)电子束轰击电气石微粒,电气石微粒产生自迁移现象,迁移距离与自发极化强度、微粒粒径、极性轴方向等因素密切相关.提出通过测量自迁移距离评价电气石电极性强弱的新方法.